硅片测试检测_硅片测试检测报告
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检测周期： 10-20天
检测范围：全国
检测报告：中英文
检测标准：国际、国标
取样方式：支持全国上门取样
免费热线：400-1017153
硅片测试范围
单晶硅片，太阳能硅片，光伏硅片，半导体硅片，切割硅片，镀膜硅片，清洗硅片，抛光硅片等。
硅片测试项目
电阻率测试，翘曲度测试，厚度测试，表面粗糙度测试，燃烧测试，弯曲度测试，平整度测试，绒面反射率测试，碳氧含量检测，压电系数测试，ECV测试，负载测试，硬度测试，抗弯强度测试，晶圆测试，表面杂质测试，表面有机物测试，少子寿命测试，颗粒度测试，表面接触角测试等。
硅片测试
硅片测试标准
GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片
GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试自动非接触扫描法
GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化 测试方法
GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法
硅片测试检测报告办理流程：
*步：在线咨询检测机构
第二步：发起质检申请
第三步：寄送样品
第四步：出具报告
百检网平台服务质量承诺
行为公正: 自觉遵守公正性声明。
方法科学: 遵循科学求实原则，严格按照规定的方法从事校准工作。
结果: 证书规范严谨、数据可靠。
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